TE274微距測(cè)試卡

測(cè)試卡介紹

微距測(cè)試卡TE274設(shè)計(jì)用于分析在微距模式下單反相機(jī)系統(tǒng)以及小型相機(jī)的微距鏡頭的分辨率和失真。
微距測(cè)試卡TE274由兩部分組成：

斜邊用于分辨率測(cè)量

該測(cè)試卡包含15個(gè)斜邊結(jié)構(gòu)，每個(gè)具有兩個(gè)垂直和兩個(gè)水平

邊緣和聚焦輔助在中心。斜邊結(jié)構(gòu)傾斜5°并且具有大約97％的調(diào)制。

斜邊以一種方式布置，以在圖像高度（3：2縱橫比）的30％，45％，60％和75％處遞送軸分辨率和分辨率。

交叉圖用于失真測(cè)量

白色背景上的黑色十字用于確定透鏡幾何畸變（LGD）和色差。
微距測(cè)試卡TE274使用方法

將微距測(cè)試卡放在相機(jī)外的桌子上。從測(cè)試卡的上部（斜邊）開始，將框架中的測(cè)試卡滑動(dòng)到向下位置。調(diào)整相機(jī)和測(cè)試卡之間的距離，直到斜邊圖表填滿圖像高度。拍攝圖像后，將圖框滑動(dòng)到上邊框?，F(xiàn)在失真部分恰好在用于拍攝圖像的位置。不需要重新調(diào)整或重新聚焦。

TE274微距測(cè)試卡參數(shù):

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