SGW®X-4B顯微熔點(diǎn)儀——慧龍環(huán)科010-59483667

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SGW®X-4B顯微熔點(diǎn)儀測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于**、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。

SGW®X-4B顯微熔點(diǎn)儀技術(shù)指標(biāo)：
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃

測(cè)量重復(fù)性：±0.1℃（在<200℃時(shí)）
       ±0.2℃（在200～300℃時(shí)）

光學(xué)放大倍數(shù)：40-100倍隨意調(diào)節(jié)

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